Phenom ProX Desktop SEM

SEM de sobremesa de alto rendimiento con un rango de aumentos de hasta 150.000x y un voltaje de aceleración entre 5kV y 15kV y opción de 20kV. Detector EDS totalmente integrado y detector SED opcional. Permite el análisis de muestras conductoras y no conductoras sin preparación gracias a su funcionalidad de alto y bajo vacío.

El microscopio electrónico de barrido (SEM) Phenom ProX se basa en el SEM de sobremesa de quinta generación, con un rendimiento mejorado en la obtención de imágenes y el análisis elemental. Con el SEM de sobremesa Phenom ProX se pueden examinar las estructuras de las muestras desde el punto de vista morfológico, además de su composición elemental. Además del análisis puntual, el software Elemental Mapping y Line Scan permite un análisis más profundo de la distribución elemental.

Los microscopios SEM Phenom son muy intuitivos, rápidos en la entrega de resultados y desarrollados con los más altos estándares de calidad. Teniendo en cuenta estos principios fundamentales, el sistema de espectroscopia Phenom ProX ha sido desarrollado con soluciones de imagen y análisis de última generación.

En comparación con su predecesor, el SEM Phenom ProX de Generación 5 tiene al menos un 20% más de resolución y la experiencia del usuario es aún mejor para analizar una gama más amplia de muestras, incluyendo muestras muy sensibles que pueden ser dañadas por el haz de electrones. La identificación rápida de los distintos elementos químicos de una muestra se consigue mediante el software de identificación de elementos (EID) y un espectrómetro de energía dispersiva (EDS) totalmente integrado.