El sistema incorpora una configuración de doble detector de alta resolución (7 MP y 27 MP) que permite optimizar la adquisición según el tamaño de la muestra y los requisitos de resolución.

El NeoScan N90 puede alcanzar un tamaño de vóxel de hasta 40 nm y una resolución espacial de 300 nm (patrón JIMA), proporcionando información estructural detallada de las muestras.

La fuente de rayos X ofrece un amplio rango energético de 20 a 160 kV y un tamaño de foco muy pequeño, lo que permite analizar una amplia variedad de materiales con alto contraste y resolución.

Además, el sistema puede incorporar un módulo integrado de micro-XRF de campo completo, que permite complementar la información estructural obtenida mediante tomografía con información elemental de la muestra.

Sistema compacto de nano-CT de sobremesa

Tecnología de nano tomografía de rayos X integrada en un sistema compacto diseñado para laboratorios de investigación y aplicaciones industriales.

Máxima resolución espacial

Tamaño de vóxel de hasta 40 nm y resolución espacial de 300 nm (en patrón JIMA).

Configuración flexible de detección

Configuración estándar de doble detector con geometría variable:

• Detector flat-panel de 7 MP (14-bit) para escaneos rápidos y campos de visión amplios

• Detector 27 MP sCMOS retroiluminado de 16-bit para máxima resolución y sensibilidad

Análisis estructural y elemental

Posibilidad de incorporar un módulo integrado de micro-XRF de campo completo, que permite realizar análisis elemental complementario a las imágenes 3D obtenidas mediante nano-CT.