Thermo | Programa Microscopio Electrónico de Barrido (SEM)
¿Qué tipos de programas o software existen para los diferentes Microscopios Electrónicos de Barrido (SEM)? En esta entrega le hablaremos sobre 3 Programas para Microscopios Electrónicos de Barrido SEM ¡Siga leyendo y descúbralos!
Hace un tiempo, escribimos sobre qué era mejor, si comprar o subcontratar estos equipos SEM de Phenom, le invitamos a leerlo y estar más informado.
Programa Microscopio Electrónico de Barrido: PoroMetric
El Microscopio Electrónico de Barrido de Sobremesa de Phenom SEM con el software PoroMetric permite una fácil generación y análisis de imágenes de SEM. El software integrado PoroMetric permite al usuario reunir datos sobre la distribución de los poros y parámetros como tamaño y relación de aspecto de los poros.
- Adquiera imágenes directamente desde su equipo Phenom.
- Correlacione características de los poros como área, relación de aspecto y eje mayor y menor.
- Operaciones rápidas y una gran mejora del flujo de trabajo y hace de la programación una tarea simple y predecible.
- Consigue datos estadísticos con imágenes de alta calidad.
- La colección de imágenes es ilimitada, además se generan cómo archivos digitales y se almacenan fácilmente en una red o en un USB para poder intercambiar información, comunicación o realizar consultas posteriores.
Configuración de detección de los poros:
Todos los ajustes de detección de los poros que influyen en el algoritmo de detección están divididos en configuración básica y avanzada. Los parámetros de detección se guardan con el proyecto, para que cuando un proyecto se carga en una fase posterior la configuración aplicable automáticamente se cargará. Cuando se abre el software de PoroMetric, se cargará la configuración predeterminada de detección de poro. La configuración por defecto puede cambiarse en la página de Configuración.
Programa Microscopio Electrónico de Barrido: Elemental Mapping Software
El mapeo elemental revela la distribución de elementos dentro de la muestra. Aquí los elementos previamente seleccionados para el análisis de punto pueden asignarse en un momento de la resolución y la adquisición de píxel especificado por el usuario. El algoritmo de mapeo en tiempo real muestra la acumulación en vivo de los mapas de elemento seleccionados mientras que almacena los espectros de cada píxel. Esto, permite que los elementos se puedan añadir o quitar en cualquier momento, durante o después, del proceso de asignación.
La asignación se puede hacer en la imagen como un todo, pero hay un beneficio adicional incluido para ahorrar tiempo mediante la adición de la opción seleccionada del área. Línea de exploración permite análisis más de una línea seleccionada.
La clave reside en la posibilidad de seleccionar cada uno de los siguientes: número de puntos, tiempo de permanencia por punto y número de pasadas. Además de eso, los resultados pueden fácilmente exportados y divulgados a través de una plantilla automatizada.
Especificaciones:
- Información rápida y confiable sobre la distribución de elementos dentro de la muestra o la línea seleccionada.
- Fácil exportación y resultados.
Programa Microscopio Electrónico de Barrido: 3D Roughness Reconstruction Software
Con la aplicación 3D Roughness Reconstruction, los sistemas SEM de sobremesa Phenom son capaces de generar imágenes tridimensionales y las medidas de rugosidad Submicrométrica.
La proyección de imagen 3D ayuda a interpretar las características de la muestra y ofrece imágenes comprensibles para un grupo más grande de usuarios. A menudo es difícil, por ejemplo, identificar abolladuras, arañazos y las rebabas de imágenes planas en 2D. La medición de la rugosidad media (Ra) y la altura de rugosidad (Rz) es fundamental para controlar y entender los procesos de producción. Usando una proyección de imagen de SEM para la recolección de datos, se puede alcanzar una resolución mucho mejor que usando métodos tradicionales (indirectos).
Especificaciones:
- Interfaz de usuario intuitiva, máxima empleabilidad
- Intuitiva interfaz de usuario completamente automatizado
- Basado en la tecnología de “forma de la sombra”, inclinación de la fase no requerido
- Rápida reconstrucción
